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Hochstromtests von IGBTs, Dioden oder MOSFETs

MicroContact baut kundenspezifische Hochstromtester für das Prüfen von Hochleistunghalbleitern wie Dioden, IGBTs oder MOSFETs. Die Tester ermöglichen den statischen und dynamischen Hochstromtest direkt auf dem BARE DIE, auf DCB Ebene oder von ganzen Modulen.

Im Hochstrom Prüfadapter werden die speziellen Gegebenheiten berücksichtigt, so dass nur die Prüflinge selbst gemessen werden und ein Einfluss des Adapters mit den Anschlussleitungen auf das Ergebnis vermieden wird.

Bild: Teststation für dynamischen Hochstromtest

Bei der Messtechnik vertrauen wir auf unseren langjährigen und kompetenten Partner VX Instruments. Deren zuverlässige und unter anderem auf PXI basierende Testsysteme ermöglichen potentialfreie und präzise Messungen. Speziell die eingesetzten Hochstrom Puls-SMUs garantieren sehr kurze Testzeiten.

Bild: Hochstrom-Testsystem und Prüfadapter              

 

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